著者典拠情報

標目形：
Miller, M. K. (Michael Kenneth)
属性：
Personal
から見よ参照形：
Miller, Michael Kenneth
注記：
His Atom probe microanalysis, 1989: CIP t.p. (M.K. Miller; Metals and Ceramics Div., Oak Ridge Natl. Lab., Oak Ridge, TN)
Phone call to publisher, 8-10-89 (Michael Kenneth Miller)
著者典拠ID：
DA05002218


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1.

図書
図書
1. Atom probe tomography : analysis at the atomic level
M. K. Miller
出版情報: New York : Kluwer Academic/Plenum Publishers, c2000
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2.

図書
図書
2. Atom probe field ion microscopy
M.K. Miller ... [et al.]
出版情報: Oxford : Clarendon Press, 1996
シリーズ名: Monographs on the physics and chemistry of materials ; 52
Oxford science publications
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3.

図書
図書
3. 36th International Field Emission Symposium, July 31, August 4, 1989, Oxford, Great-Britain
edited by A. Cerezo, M. K. Miller G. D. W. Smith
出版情報: Les Ulis : Editions de Physique, c1989
シリーズ名: Colloque de physique ; Tome 50
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4.

図書
図書
4. Atom probe microanalysis : principles and applications to materials problems
M.K. Miller, G.D.W. Smith
出版情報: Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society, c1989
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5.

図書
図書
5. 35th International Field Emission Symposium, July 18-22, 1988, Oak Ridge, U.S.A.
edited by M. K. Miller
出版情報: Les Ulis : Editions de Physique, c1988
シリーズ名: Journal de physique ; Tome 49
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6.

図書
図書
6. 32th International Field Emission Symposium, July 14-19, 1985, Oglebal Park, Wheeling, West Virginie (U.S.A.)
edited by M. K. Miller, S. S.Brenner
出版情報: Les Ulis : Editions de Physique, c1986
シリーズ名: Journal de physique ; Tome 47
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