close
1.

電子ブック
ＥＢ
1. Coherent Light Microscopy : Imaging and Quantitative Phase Analysis
edited by Pietro Ferraro, Adam Wax, Zeev Zalevsky
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2011
シリーズ名: Springer Series in Surface Sciences ; 46
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-15813-1
所蔵情報: loading…
2.

電子ブック
ＥＢ
2. Scanning Transmission Electron Microscopy : Imaging and Analysis
edited by Stephen J. Pennycook, Peter D. Nellist
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2011
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7200-2
所蔵情報: loading…
3.

電子ブック
ＥＢ
3. Pharmaceutical Microscopy
by Robert Allen Carlton
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2011
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8831-7
所蔵情報: loading…
4.

電子ブック
ＥＢ
4. Radiometry in Modern Scientific Experiments
by A. M. Pravilov
出版情報: Vienna : Springer-Verlag/Wien, 2011
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-0104-9
所蔵情報: loading…
5.

電子ブック
ＥＢ
5. Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : Techniques
by Jeanne Ayache, Luc Beaunier, Jacqueline Boumendil, Gabrielle Ehret, Daniele Laub
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2010
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5975-1
所蔵情報: loading…
6.

電子ブック
ＥＢ
6. Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : Methodology
by Jeanne Ayache, Luc Beaunier, Jacqueline Boumendil, Gabrielle Ehret, Daniele Laub
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2010
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-98182-6
所蔵情報: loading…
7.

電子ブック
ＥＢ
7. Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
by Patrick Echlin
出版情報: Boston, MA : Springer-Verlag US, 2009
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/b100727
所蔵情報: loading…
8.

電子ブック
ＥＢ
8. Science of Microscopy
edited by Peter W. Hawkes, John C. H. Spence
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2007
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-49762-4
所蔵情報: loading…
9.

電子ブック
ＥＢ
9. Scanning Probe Microscopy : Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
edited by Sergei Kalinin, Alexei Gruverman
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2007
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6
所蔵情報: loading…