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1.

電子ブック
ＥＢ
1. Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems. 1
by Johan Liu, Olli Salmela, Jussi Sarkka, James E. Morris, Per-Erik Tegehall, Cristina Andersson
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2011
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5760-3
所蔵情報: loading…
2.

電子ブック
ＥＢ
2. Nanopackaging : Nanotechnologies and Electronics Packaging
edited by James E. Morris
出版情報: Boston, MA : Springer-Verlag US, 2009
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-47325-3
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