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1.

図書
図書
1. CMOS gate-stack scaling--materials, interfaces and reliability implications : symposium held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.S.A.
editors: Alexander A. Demkov ... [et al.]
出版情報: Warrendale, Pa. : Materials Research Society, c2009
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings ; v. 1155
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2.

電子ブック
ＥＢ
2. Materials Fundamentals of Gate Dielectrics
edited by Alexander A. Demkov, Alexandra Navrotsky
出版情報: Dordrecht : Springer, 2005
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3078-9
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