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1.

電子ブック

EB
by P.K. Kapur, Hoang Pham, A. Gupta, P.C. Jha
出版情報: London : Springer London : Imprint: Springer, 2011
シリーズ名: Springer Series in Reliability Engineering ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-204-9
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1. Introduction
2. Software Reliability Growth Models
3. Imperfect Debugging Testing Efficiency Software Reliability Growth Models
4. Testing-Coverage and Testing-Domain Models
5. Change Point Models
6
Unification of SRGM
7. Artificial Neural Networks Based SRGM
8. SRGM Using SDE
9. Discrete SRGM
10. Software Release Time Decision Problems Introduction
11. Allocation Problems at Unit Level Testing
12. Fault Tolerant Systems
1. Introduction
2. Software Reliability Growth Models
3. Imperfect Debugging Testing Efficiency Software Reliability Growth Models
2.

電子ブック

EB
edited by Hoang Pham
出版情報: London : Springer-Verlag London Limited, 2011
シリーズ名: Springer Series in Reliability Engineering ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-470-8
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3.

電子ブック

EB
by Riccardo Manzini, Alberto Regattieri, Hoang Pham, Emilio Ferrari
出版情報: London : Springer-Verlag London, 2010
シリーズ名: Springer Series in Reliability Engineering ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84882-575-8
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4.

電子ブック

EB
edited by Hoang Pham
出版情報: London : Springer-Verlag, 2008
シリーズ名: Springer Series in Reliability Engineering ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84800-113-8
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5.

電子ブック

EB
by Hongzhou Wang, Hoang Pham
出版情報: London : Springer-Verlag London Limited, 2006
シリーズ名: Springer Series in Reliability Engineering ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/b138077
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6.

電子ブック

EB
by Hoang Pham
出版情報: London : Springer-Verlag London Limited, 2006
シリーズ名: Springer Series in Reliability Engineering ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-295-0
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7.

電子ブック

EB
edited by Hoang Pham
出版情報: London : Springer-Verlag London Limited, 2006
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84628-288-1
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