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1.

電子ブック
ＥＢ
1. Reliability of Nanoscale Circuits and Systems : Methodologies and Circuit Architectures
by Miloš Stanisavljević, Alexandre Schmid, Yusuf Leblebici
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2011
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6217-1
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2.

電子ブック
ＥＢ
2. Design and Verification of Microprocessor Systems for High-Assurance Applications
edited by David S. Hardin
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2010
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-1539-9
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3.

電子ブック
ＥＢ
3. Securing Electricity Supply in the Cyber Age : Exploring the Risks of Information and Communication Technology in Tomorrow's Electricity Infrastructure
edited by Zofia Lukszo, Geert Deconinck, Margot P. C. Weijnen
出版情報: Dordrecht : Springer Science+Business Media B.V., 2010
シリーズ名: Topics in Safety, Risk, Reliability and Quality ; 15
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3594-3
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4.

電子ブック
ＥＢ
4. Emerging Nanotechnologies : Test, Defect Tolerance, and Reliability
edited by Mohammad Tehranipoor
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2008
シリーズ名: Frontiers in Electronic Testing ; 37
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
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5.

電子ブック
ＥＢ
5. Improvement in the Quality of Delivery of Electrical Energy using Power Electronics Systems
by Grzegorz Benysek
出版情報: London : Springer-Verlag London Limited, 2007
シリーズ名: Power Systems ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84628-649-0
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6.

電子ブック
ＥＢ
6. Writing Testbenches using System Verilog
by Janick Bergeron
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, Inc., 2006
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-31275-7
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