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1.

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1. Applied Scanning Probe Methods XI : Scanning Probe Microscopy Techniques
by Bharat Bhushan, Harald Fuchs ; edited by Phaedon Avouris, Bharat Bhushan, Dieter Bimberg, Klaus von Klitzing, Hiroyuki Sakaki, Roland Wiesendanger
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009
シリーズ名: NanoScience and Technology ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3
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2.

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2. Applied Scanning Probe Methods XIII : Characterization
edited by Phaedon Avouris, Bharat Bhushan, Dieter Bimberg, Klaus von Klitzing, Hiroyuki Sakaki, Roland Wiesendanger, Bharat Bhushan, Harald Fuchs
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009
シリーズ名: NanoScience and Technology ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85039-7
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3.

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3. Applied Scanning Probe Methods XIII : Biomimetics and Industrial Applications
edited by Phaedon Avouris, Bharat Bhushan, Dieter Bimberg, Klaus von Klitzing, Hiroyuki Sakaki, Roland Wiesendanger, Bharat Bhushan, Harald Fuchs
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009
シリーズ名: NanoScience and Technology ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85049-6
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4.

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4. Surface and Interface Analysis : An Electrochemists Toolbox
by Rudolf Holze ; edited by A. W. Castleman, J. P. Toennies, K. Yamanouchi, W. Zinth
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009
シリーズ名: Springer Series in Chemical Physics ; 74
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-49829-2
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5.

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5. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Third Edition
by Brent Fultz, James M. Howe
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2008
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73886-2
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6.

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6. Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning Probe Microscopy Techniques
edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag, 2008
シリーズ名: Nano Science and Technolgy ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3
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7.

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7. Applied Scanning Probe Methods IX : Characterization
edited by Masahiko Tomitori, Bharat Bhushan, Harald Fuchs
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag, 2008
シリーズ名: Nano Science and Technolgy ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4
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8.

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8. Applied Scanning Probe Methods X : Biomimetics and Industrial Applications
edited by Bharat Bhushan, Masahiko Tomitori, Harald Fuchs
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag, 2008
シリーズ名: Nano Science and Technolgy ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74085-8
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9.

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9. Scanning Probe Microscopy : Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
edited by Sergei Kalinin, Alexei Gruverman
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2007
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6
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10.

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10. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
by Terry L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. Mayer
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, Inc., 2007
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29261-8
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11.

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11. Applied Scanning Probe Methods V : Scanning Probe Microscopy Techniques
edited by Bharat Bhushan, Satoshi Kawata, Harald Fuchs
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2007
シリーズ名: NanoScience and Technology ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-37316-2
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12.

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12. Applied Scanning Probe Methods VI : Characterization
edited by Bharat Bhushan, Satoshi Kawata
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2007
シリーズ名: NanoScience and Technology ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/11776314
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13.

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13. Applied Scanning Probe Methods VII : Biomimetics and Industrial Applications
edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2007
シリーズ名: NanoScience and Technology ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/11785705
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14.

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14. Springer Handbook of Electronic and Photonic Materials
edited by Safa Kasap, Peter Capper
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, Inc., 2006
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29185-7
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15.

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15. Scanning Probe Microscopy : Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
by Adam Foster, Werner Hofer
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2006
シリーズ名: NanoScience and Technology ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8
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16.

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16. Applied Scanning Probe Methods II : Scanning Probe Microscopy Techniques
edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2006
シリーズ名: NanoScience and Technology ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/b139097
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17.

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17. Applied Scanning Probe Methods III : Characterization
edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2006
シリーズ名: NanoScience and Technology ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/b138285
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18.

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18. Applied Scanning Probe Methods IV : Industrial Applications
edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2006
シリーズ名: NanoScience and Technology ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/b138289
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19.

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19. Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics
by Satischandra B. Ogale
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, Inc., 2005
シリーズ名: Multifunctional Thin Film Series ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/b136780
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