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半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ

フォーマット:
図書
責任表示:
荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼蔵 [ほか] 著
言語:
日本語
出版情報:
東京 : 丸善プラネット, 2013.8
形態:
viii, 344 p. : ill. ; 30 cm
著者名:
書誌ID:
BB13216182
ISBN:
9784863451728 [4863451725]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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