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1.

電子ブック
ＥＢ
1. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
by Terry L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. Mayer
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, Inc., 2007
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29261-8
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2.

図書
図書
2. 表面と薄膜分析技術の基礎
L.C.フェルドマン, J.W.メイヤー著 ; 栗山一男,山本康博訳
出版情報: 東京 : 海文堂, 1989.6
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3.

図書
図書
3. Fundamentals of surface and thin film analysis
Leonard C. Feldman, James W. Mayer
出版情報: New York : North-Holland : Elsevier Science Pub., c1986
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