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1.

電子ブック
ＥＢ
1. Emerging Nanotechnologies : Test, Defect Tolerance, and Reliability
edited by Mohammad Tehranipoor
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2008
シリーズ名: Frontiers in Electronic Testing ; 37
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
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2.

電子ブック
ＥＢ
2. Microscale Diagnostic Techniques
edited by Kenneth S. Breuer
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2005
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/b137604
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