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1.

電子ブック
ＥＢ
1. Integrated Circuit Packaging, Assembly and Interconnections
by William J. Greig
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media LLC, 2007
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-33913-2
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2.

電子ブック
ＥＢ
2. Micro- and Opto-Electronic Materials and Structures: Physics, Mechanics, Design, Reliability, Packaging
edited by E. Suhir, Y. C. Lee, C. P. Wong
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2007
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-32989-7
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3.

電子ブック
ＥＢ
3. Data Converters
by Franco Maloberti
出版情報: Boston, MA : Springer, 2007
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-32486-9
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4.

電子ブック
ＥＢ
4. Analog Design Essentials
by Willy M. C. Sansen
出版情報: Boston, MA : Springer, 2006
シリーズ名: The International Series in Engineering and Computer Science ; 859
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/b135984
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5.

電子ブック
ＥＢ
5. Fundamentals of Switching Theory and Logic Design : A Hands on Approach
by Jaakko T. Astola, Radomir S. Stankovic
出版情報: Boston, MA : Springer, 2006
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-30311-1
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6.

電子ブック
ＥＢ
6. Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting
edited by Dimitris Gizopoulos
出版情報: Boston, MA : Springer, 2006
シリーズ名: Frontiers in Electronic Testing ; 27
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29409-0
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7.

電子ブック
ＥＢ
7. Fault-Tolerance Techniques for SRAM-based FPGAs
by Fernanda Lima Kastensmidt, Luigi Carro, Ricardo Reis
出版情報: Boston, MA : Springer, 2006
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-31069-5
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8.

電子ブック
ＥＢ
8. Transaction Level Modeling with SystemC : TLM Concepts and Applications for Embedded Systems
edited by Frank Ghenassia
出版情報: Boston, MA : Springer, 2005
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/b137175
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9.

電子ブック
ＥＢ
9. Modeling and Simulation for RF System Design
by Ronny Frevert, Joachim Haase, Roland Jancke, Uwe Knochel, Peter Schwarz, Ralf Kakerow, Mohsen Darianian
出版情報: Boston, MA : Springer, 2005
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-27585-1
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10.

電子ブック
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10. Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
by Erik Larsson
出版情報: Boston, MA : Springer, 2005
シリーズ名: Frontiers in Electronic Testing ; 29
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/b135763
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