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1.

電子ブック
ＥＢ
1. ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
by Oleg Semenov, Hossein Sarbishaei, Manoj Sachdev
出版情報: Dordrecht : Springer Science + Business Media B.V., 2008
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8301-3
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2.

電子ブック
ＥＢ
2. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
by Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
出版情報: Dordrecht : Springer Science + Business Media B.V, 2008
シリーズ名: Frontiers In Electronic Testing ; 40
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1
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3.

電子ブック
ＥＢ
3. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits : 2nd Edition
edited by Manoj Sachdev, Jose Pineda de Gyvez
出版情報: Boston, MA : Springer, 2007
シリーズ名: Frontiers in Electronic Testing ; 34
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2
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4.

電子ブック
ＥＢ
4. Thermal and Power Management of Integrated Circuits
by Arman Vassighi, Manoj Sachdev
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, Inc., 2006
シリーズ名: Series on Integrated Circuits and Systems ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29749-9
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