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1.

電子ブック
ＥＢ
1. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits : 2nd Edition
edited by Manoj Sachdev, Jose Pineda de Gyvez
出版情報: Boston, MA : Springer, 2007
シリーズ名: Frontiers in Electronic Testing ; 34
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2
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2.

電子ブック
ＥＢ
2. Thermal and Power Management of Integrated Circuits
by Arman Vassighi, Manoj Sachdev
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, Inc., 2006
シリーズ名: Series on Integrated Circuits and Systems ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29749-9
所蔵情報: loading…