CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test

フォーマット:

電子ブック

責任表示:

by Andrei Pavlov, Manoj Sachdev

言語:

英語

出版情報:

Dordrecht : Springer Science + Business Media B.V, 2008

形態:

v.: digital

著者名:

• Pavlov, Andrei
• Sachdev, Manoj
• SpringerLink (Online service)

シリーズ名:

Frontiers In Electronic Testing ; 40

書誌ID:

NB02216724

ISBN:

9781402083631 [1402083637]      

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