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検索結果: 2 件

電子ブック

ＥＢ

1. Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits : Mitigating Soft Errors and Process Variations

by Rajesh Garg, Sunil P. Khatri

電子ブック

ＥＢ

2. Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design

by Nikhil Jayakumar, Suganth Paul, Rajesh Garg, Kanupriya Gulati, Sunil P. Khatri

出版情報:	Boston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2010
子書誌情報:	loading…
オンライン:	http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0950-3
所蔵情報:	loading…