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1.

電子ブック
ＥＢ
1. Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems. 1
by Johan Liu, Olli Salmela, Jussi Sarkka, James E. Morris, Per-Erik Tegehall, Cristina Andersson
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2011
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5760-3
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2.

電子ブック
ＥＢ
2. Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections. 1
by Cher Ming Tan, Wei Li, Zhenghao Gan, Yuejin Hou
出版情報: London : Springer-Verlag London Limited, 2011
シリーズ名: Springer Series in Reliability Engineering ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-310-7
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3.

電子ブック
ＥＢ
3. The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects
edited by Günter Grossmann, Christian Zardini
出版情報: London : Springer-Verlag London Limited, 2011
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-236-0
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4.

電子ブック
ＥＢ
4. Introduction to Microsystem Design
by Werner Karl Schomburg
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2011
シリーズ名: RWTHedition ; 1
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-19489-4
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5.

電子ブック
ＥＢ
5. Tip-Based Nanofabrication : Fundamentals and Applications. 1
edited by Ampere A. Tseng
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2011
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9899-6
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6.

電子ブック
ＥＢ
6. Deterministic Solvers for the Boltzmann Transport Equation
by Sung-Min Hong, Anh-Tuan Pham, Christoph Jungemann
出版情報: Vienna : Springer-Verlag/Wien, 2011
シリーズ名: Computational Microelectronics ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-0778-2
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7.

電子ブック
ＥＢ
7. Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
by Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
出版情報: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2011
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
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8.

電子ブック
ＥＢ
8. Nanostructured Materials for Engineering Applications
edited by Carlos Pérez Bergmann, Mônica Jung Andrade
出版情報: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2011
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-19131-2
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9.

電子ブック
ＥＢ
9. Strain Effect in Semiconductors : Theory and Device Applications. First
by Yongke Sun, Scott E. Thompson, Toshikazu Nishida
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2010
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0552-9
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10.

電子ブック
ＥＢ
10. Dielectric Polymer Nanocomposites
edited by J. Keith Nelson
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2010
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-1591-7
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