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検索結果: 2 件

電子ブック

ＥＢ

1. Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies. 1

by Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel

電子ブック

ＥＢ

2. Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

edited by Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen

出版情報:	Boston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2010
子書誌情報:	loading…
オンライン:	http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
所蔵情報:	loading…