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1.

電子ブック
ＥＢ
1. VLSI 2010 Annual Symposium : Selected papers
edited by Nikolaos Voros, Amar Mukherjee, Nicolas Sklavos, Konstantinos Masselos, Michael Huebner
出版情報: Dordrecht : Springer Science+Business Media B.V., 2011
シリーズ名: Lecture Notes in Electrical Engineering ; 105
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1488-5
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2.

電子ブック
ＥＢ
2. Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design
by Yu Cao
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2011
シリーズ名: Integrated Circuits and Systems ;
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0445-3
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3.

電子ブック
ＥＢ
3. Software-Implemented Hardware Fault Tolerance
by Olga Goloubeva, Maurizio Rebaudengo, Matteo Sonza Reorda, Massimo Violante
出版情報: Boston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2006
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-32937-4
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4.

電子ブック
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4. Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting
edited by Dimitris Gizopoulos
出版情報: Boston, MA : Springer, 2006
シリーズ名: Frontiers in Electronic Testing ; 27
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29409-0
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5.

電子ブック
ＥＢ
5. Fault-Tolerance Techniques for SRAM-based FPGAs
by Fernanda Lima Kastensmidt, Luigi Carro, Ricardo Reis
出版情報: Boston, MA : Springer, 2006
オンライン: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-31069-5
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